Boundary scan)))バウンダリースキャン(((



IEEE1149.1として標準化されたバウンダリ・スキャンテスト。
高機能デバイスが一般的な現在、大変有効な検査手法として注目されています。

JTAG(Joint Test Action Group)ポートを有する全てのデバイス、回路基板が主な検査対象です。
JTAG対応デバイスには、TAP(Test Access Port)すなわちTDI,TDO、TMS、TCK、
そしてオプションのTRSTの5端子で構成されています。



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弊社では、BSID単品検証から、総合検査手法の御提案、
テスト治具、検査プログラムや解析に至る作業まで
お客様をトータルにサポートできる体勢が整っております。

バウンダリースキャンテストシステム販売に関しましては、
アキュロジック(株)の製品サポートも行っております。
こちらのページも合わせて御覧下さいませ。


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