テラダイン鎧18xx

バウンダリースキャンのご紹介


   ICT    )))各種試験用治具(((    

インサーキットテスター用試験冶具について


    弊社テストサービス部門では、様々な基板検査用治具(フィクスチャー)を製作致します。

基板検査手法にはバウンダリースキャンテストソリューションを含め、様々な検査技術を総的にご提案することが可能です。

        

テラダイン社製テスター用試験治具


Z18XX系冶具

スペクトラム用冶具

冶具内部

弊社では、テラダイン社製基板試験装置用フィクスチャー製作に10年以上の経験と豊富な技術を蓄積して参りました。
  Z18xxシリーズ用やスペクトラム用など、様々なご要望にお応え致します。 現在では、アナログ・デジタル機能のみならず、様々な手法を用いたいわば複合テスト環境も提供致しております。
一例を挙げますと、
・ プローブが立たないリード部品の足浮き検査を行いたい場合。
     「フレームスキャン・デルタスキャン」等のベクタレス・テストを組み合わせて検査可能です。

・ バウンダリースキャン(IEEE1149.x)に対応した検査環境を整えたい場合。 バウンダリースキャンテストを組込んだ検査も多数の実績があります。
単品検証からFLASH-ROM等のオンボード書き込みも含めて提案致します。

その他、検査回数やバーコード読みとり等の多様な検査治具の御要望にお応え致します。


試験冶具製作に必要な情報


★ 部品のネットデータ
   全ての部品ピン番号に対してネット名がアサインされていること。
  また、テストパッドを有する場合テストパッドもアサインされていること。

★ 部品のX,Y座標データ
  部品リードのXY情報、部品取り付け面の情報、表面実装用部品か
  DIP部品かが判別可能な情報。

★ 部品の種別・型名情報  
    部品IDとその部品名、部品の定格、部品の種別の情報。

★ その他の必用な情報
 ・治具ツーリングピンに使用できる基板上の基準穴のXY座標
  ・基板の外形情報
  ・10ミリ以上の高さを有している部品の高さ情報
  ・部品の取り付け方向がわかる情報
  ・基板外観図及びガーバーデータ

 まずは、弊社担当までお気軽に御相談下さいませ。

 

バウンダリースキャン用治具について。

z18xx+jigu

 右の写真は、バウンダリースキャン対応デバイス検証状況です。

 フィクスチャー本体は共通仕様となっておりますので、

 デバイスとそれに対応した、配線基盤を準備することで、

 検査・確認が容易に可能となります。

 この様な検証作業を踏まえることで、

 デバイスの動作確認と同時にBSDLファイルの確認が行えます。

 BSテストを確実に行うことが可能となります。

 

 いずれの場合も、検査環境を円滑に起動するために、

 デバイス、BSDLファイルの検証を行われることを

 お奨め致しております。

 

 弊社にて、検証作業を代行することも可能です。

 お問い合わせ下さいませ。



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